電子・半導体産業

鮮明な画像と制御照明で微細特徴を測定

電子部品では、反射面、透明材料、高密度特徴に合わせて、フォーカス、照明、エッジ画像、倍率、測定方法を制御する必要があります。

鮮明な画像と制御照明で微細特徴を測定
01 / PKL

VMM から検討しやすい用途

表面状態と測定特徴に合わせて光学系、照明、治具を選びます。

PCB・コネクター

穴径、パッド、間隔、エッジ、複数位置を高速に測定します。

ウェハー・微細部品

特徴寸法とワークの平坦度に合わせて倍率、分解能、フォーカス方式を選びます。

電子・半導体の汎用試料を光学測定するイメージ

次のステップ

ワーク情報を送り、PKL エンジニアに相談する

電子部品では、反射面、透明材料、高密度特徴に合わせて、フォーカス、照明、エッジ画像、倍率、測定方法を制御する必要があります。

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