CAD → PROBE → REPORT

先规划完整 CMM 测量流程,再选择硬件

从 CAD 与装夹,到探针可达性、防碰撞、触发或扫描策略、报告及 MES 数据交接。

TZTEK CMM probe system configuration
01

CAD 与判定

导入支持的 CAD,定义基准、公差与验收判定。

02

装夹与可达性

稳定工件,并在编程前检查特征可达性。

03

探针策略

依据特征密度与形状要求选择触发或扫描。

04

防碰撞

仿真路径、测座角度、测针长度与间隙。

05

执行测量

在受控条件下完成点测或连续扫描。

06

报告与 MES

输出可追溯的 PDF、Excel 或 CSV,并定义 MES 交接。

PROBE EXPLORER

根据测量目的规划触发、扫描与角度调整

仅用于应用初筛,不构成最终规格、报价或性能保证。

资料版本控制TZTEK CMM 目录,2026-09-09版:Vispec Cube、控制器、探针系统及增值流程章节。