TP20 触发测量
适合按规划点位测量平面、孔、基准和常规几何特征。
COORDINATE MEASURING MACHINE
通过合适的探针系统测量复杂三维几何
选型时需确认测量范围、工件重量、MPE(E0)、探针、可达角度、夹具、环境条件和报告要求。
01 / PKL
触发测量与连续扫描
根据特征形态、数据密度和检测节拍选择测量策略。
SP25 连续扫描
沿轮廓或曲面连续采集数据，并可调整探头角度以接近复杂特征。
夹具与测量路径
合理定位工件、保持基准稳定并降低探针碰撞风险。
下一步
提交工件信息，由 PKL 工程团队评估
选型时需确认测量范围、工件重量、MPE(E0)、探针、可达角度、夹具、环境条件和报告要求。
CMM DIGITAL WORKFLOW
先规划完整 CMM 测量流程，再选择硬件
从 CAD 与装夹，到探针可达性、防碰撞、触发或扫描策略、报告及 MES 数据交接。