电子与半导体行业

以清晰成像和可控照明测量微小特征

电子零件测量需要针对反光、透明或高密度特征,正确控制焦点、照明、边缘成像、倍率和测量方法。

以清晰成像和可控照明测量微小特征
01 / PKL

适合优先评估 VMM 的应用

根据工件表面和待测特征选择光学系统、照明和夹具。

PCB 与连接器

快速检测孔径、焊盘、间距、边缘及多个位置。

晶圆与微型零件

根据特征尺寸和工件平整度选择合适的倍率、分辨率和对焦系统。

电子与半导体通用样品光学检测概念图

下一步

提交工件信息,由 PKL 工程团队评估

电子零件测量需要针对反光、透明或高密度特征,正确控制焦点、照明、边缘成像、倍率和测量方法。

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