VMM / TZTEK

VMQ Compact Series

Name: VMQ Compact Series
Brand: TZTEK

适用于光学边缘、轮廓和图像尺寸检测，前提是工件尺寸及所需不确定度符合所选配置。

测量范围150 × 120 × 75 to 400 × 300 × 200 mm

工件承载5–25 kg

公开初筛指标E2=(2.0+L/200) to E2=(4.0+L/200) µm

选型适用场景

适用于光学边缘、轮廓和图像尺寸检测，前提是工件尺寸及所需不确定度符合所选配置。

配置边界

光学系统、照明、对焦、传感器、平台运动及软件选项会改变实际能力。

资料版本控制数据依据 TZTEK VMM 与 CMM 目录（2026-09-09）。最终型号、环境、传感器、软件和验收条件以现行技术协议为准。