CMM / TZTEK

CMS Workshop Series

Name: CMS Workshop Series
Brand: TZTEK

适用于触觉三维几何、基准与 GD&T，需保证探针可达性、工件承载和环境控制满足要求。

测量范围500 × 600 × 500 mm

工件承载150 kg

公开初筛指标MPE(E0)=(2.2+L/300) µm at 18–22 °C

选型适用场景

适用于触觉三维几何、基准与 GD&T，需保证探针可达性、工件承载和环境控制满足要求。

配置边界

测座、测针树、扫描模式、夹具、温度及验收方法必须协同设计。

资料版本控制数据依据 TZTEK VMM 与 CMM 目录（2026-09-09）。最终型号、环境、传感器、软件和验收条件以现行技术协议为准。